分析用x射線管

分析儀器專用X射線管。國產(chǎn)或進口波紋陶瓷管、金屬陶瓷管、玻璃管適用于國內(nèi)外各種型號XRD、XRF、晶體分析儀、定向儀。

技術參數(shù)

1、可選靶材類型：Cu、 Co 、Fe 、Cr 、Mo 、Ti 、W等

2、焦點類型：0.2×12mm或1×10mm或0.4×14mm（細焦點）

3、較大輸出功率：2.4kW或2.7kW

TGW-1高溫附件

為了解高溫加熱過程中樣品的晶體結(jié)構(gòu)變化以及各種物質(zhì)高溫加熱過程中相互溶解的變化等。

技術參數(shù)

溫度設置：惰性氣體環(huán)境   室溫到1200℃

真空環(huán)境    較高溫度1600℃

溫度控制精度：±0.5℃

窗口材料： 聚酯膜

冷卻方式： 去離子水循環(huán)冷卻

    TDW-11中低溫附件

     溫度設置：惰性氣體環(huán)境，室溫到1200℃

     真空環(huán)境：-196~450℃

     溫度控制精度：±0.5℃

     制冷方式：液氮（消耗量小于4L/h）

     窗口材料：聚酯膜

     冷卻方式：去離子水循環(huán)冷卻

TSM-2 石墨單色器

單色器是安裝在X射線探測器前，將通過接收狹縫后的X射線單色化，只檢測X光譜的Kα特征X射線的部件。使用該裝置，可以全部消除連續(xù)X射線、Kβ特征X射線和熒光X射線，可以進行高信噪比的X射線衍射分析。當銅靶X射線管和對應的單色器配合使用時，可以消除從Mn、Fe、Co、Ni系樣品中產(chǎn)生的熒光X射線，可適用與多種樣品的分析。

技術參數(shù)

晶體類型：石墨彎晶或平晶（根據(jù)分析目的選擇）

反射效率：η≥35%

TZG-5 多功能集成測量附件

設計安裝在廣角測角儀上，用于對板狀材料、塊狀材料及基板上的膜的分析，進行晶相檢出、取向度檢測、應力測試分析等，可以進行織構(gòu)、應力、薄膜面內(nèi)結(jié)構(gòu)等測試。

功能特點

采用透射法或反射法進行極圖測試；

可以采用并傾法或者同傾法進行應力測試；

薄膜測試（樣品的面內(nèi)旋轉(zhuǎn)）

應用領域

輥軋板等金屬集合組織的評價；

陶瓷取向的評價；

薄膜樣品晶體優(yōu)先方位的評價；

各種金屬材料、陶瓷材料的殘余應力測試（耐磨耗性、耐切削性等的評價）；

多層膜的殘余應力測試（膜的剝落等的評價）；

高溫超導材料薄膜、金屬板等表面氧化、氮化膜的分析；

玻璃、Si、金屬基板上的多層膜的分析（磁性薄膜、金屬表面硬化皮膜等）；

大分子材料、紙、鏡片等電鍍材料的分析。

技術規(guī)格

α軸（傾斜）:       動作范圍 -45°~90°, 較小步距 0.001°/步       

β軸（面內(nèi)旋轉(zhuǎn)）: 動作范圍 0°~360°, 較小步距 0.001°/步

x軸: 動作范圍：   動作范圍 ±10mm，較小步距 0.001mm/步 

y軸: 動作范圍：    較小步距 0.001mm/步 

z軸（前后旋轉(zhuǎn)）: 動作范圍 ±10mm, 較小步距 0.001mm/步                

樣品尺寸:             較大Φ40mm，厚度10mm

自動換樣器

       采用進口步進電機驅(qū)動，由進口西門子可編程序控制器（PLC）控制，無需人工換樣，系統(tǒng)自動連續(xù)測樣，自動保存數(shù)據(jù)。一次可以裝載6個樣品進行連續(xù)測量。

     旋轉(zhuǎn)樣品臺

       樣品可以在自身平面內(nèi)旋轉(zhuǎn)，有利于晶粒粗大引起的誤差，對有織構(gòu)和晶癖的試樣測量，保證衍射強度有很好的再現(xiàn)性，消除擇優(yōu)取向。

      主要功能

       旋轉(zhuǎn)方式：β軸（樣品平面）

       旋轉(zhuǎn)速度：1~60RPM

       較小步寬：0.1º

       操作模式：定速旋轉(zhuǎn)用于樣品掃描（步進、連續(xù)）